8インチ(200mm)ウェーハ

8インチ(200mm)ウェーハ

100mmから300mm .の範囲のすべてのウェーハ直径にあるダブルサイドポリッシュされたウェーハの大きなストックは、在庫で仕様が利用できない場合、ユニークな仕様に合わせてカスタム製造ウェーフを使用できる多数のベンダーとの長期的な関係を確立しました{3}.ダブルサイドポーフィングで使用できます。業界.
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説明
技術的なパラメーター


製品の紹介


8 inch(200mm) Polished Wafer DSC01147 730 


8 inch(200mm) Polished Wafer DSC01144 730


材料特性


パラメーター

特性

ASTM制御方法

タイプ/ドーパント

P、ホウ素N、リンN、アンチモンN、ヒ素

F42

オリエンテーション

<100>,   <111>顧客の仕様ごとに向きを切り開きます

F26

酸素含有量

1019 顧客の仕様ごとのPPMAカスタムトレランス

F121

炭素含有量

< 0.6   ppmA

F123

抵抗率範囲-P、boron-N、リン - n、抗losy-n、ヒ素

0.001 - 50 ohm cm
0.1 - 40 ohm cm
0.005 - 0.025 ohm cm
<0.005オームcm

F84


機械的特性


パラメーター

プライム

監視/テストa

テスト

ASTMメソッド

直径

200±0.2 mm

200±0.2 mm

200±0.5 mm

F613

厚さ

725±20 µm(標準)

725±25 µm(標準)450±25 µm 625±25 µm 1000±25 µm 1300±25 µm 1500±25 µm

725±50 µm(標準)

F533

TTV

< 5 µm

< 10 µm

< 15 µm

F657

< 30 µm

< 30 µm

< 50 µm

F657

包む

< 30 µm

< 30 µm

< 50 µm

F657

エッジラウンド

Semi-std

F928

マーキング

プライマリセミフラットのみ、セミSTDフラットジェイダフラット、ノッチ

F26, F671


表面の品質


パラメーター

プライム

監視/テストa

テスト

ASTMメソッド

フロントサイドの基準

表面状態

化学機械洗浄

化学機械洗浄

化学機械洗浄

F523

表面の粗さ

< 2 A°

< 2 A°

< 2 A°


Contamination,Particles   @ >0.3 µm

= 20

= 20

= 30

F523

ヘイズ、ピット、オレンジの皮

なし

なし

なし

F523

のこぎり、縞

なし

なし

なし

F523

裏側の基準

ひび割れ、カラスフィート、のこぎり、マーク、汚れ

なし

なし

なし

F523

表面状態

苛性エッチング

F523

 

製品説明


Microfluidicsアプリケーション. MicroelectronicsまたはMEMSアプリケーションの場合は、詳細な仕様についてはお問い合わせください.

 

マイクロエレクトロニクスの製品ラインには、片側磨き(SSP)と二重サイドポリッシュ(DSP)ウェーハ基板の両方が含まれています{.ダブルサイドポリッシュされたウェーハは、通常、半導体、MEMS、および緊密に制御された平らな特性を持つウェーハが必要である. . . .にも必要です。

100mmから300mm .の範囲のすべてのウェーハ直径にあるダブルサイドポリッシュされたウェーハの大きなストックは、在庫で仕様が利用できない場合、独自の仕様を適合させるためにカスタム製造ウェーパーをカスタム製造できる多数のベンダーとの長期的な関係を確立しました。業界.

カスタマイズされたダイシングと研磨も、要件に応じて避けられます.お気軽にお問い合わせください.

 

製品機能


·         8 "P/Nタイプ、研磨シリコンウェーハ(25 PC)

·         オリエンテーション:200

·         抵抗率:0.1 - 40 ohm•cm(バッチごとに異なる場合があります)

·         厚さ:725+/-20 um

·         プライム/モニター/テストグレード

 


人気ラベル: 8インチ(200mm)ウェーハ、中国、サプライヤー、製造業者、工場、中国製

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